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項目介紹

掠入射X射線散射（GIXS）包括廣角散射GIWAXS和小角度散射GISAXS，是基于同步輻射光源的X射線散射技術，用于表征表面或薄膜中的納米級密度相關性、納米物體的形狀、以及晶格中的原子和分子距離，被廣泛的應用于研究有機太陽能電池和鈣鈦礦太陽能電池的形貌特征，晶體結構等。

比如在OPV材料結構研究中，GIWAXS被用來探測分子尺度、結構信息，常用于研究有機給體和受體材料在活性層中的分子堆疊，如結晶度、晶格常數(shù)和取向性。GISAXS可以看作是傳統(tǒng)小角散射和全反射測量的結合，能夠獲得表面、薄膜、覆蓋層中的納米結構（如納米顆粒、量子點等）的尺寸分布、形狀以及排列分布的相關信息。

提供優(yōu)質快速的GIXS測試和數(shù)據(jù)分析服務，目前已經(jīng)為南昌大學、南京理工、華南理工、電子科大等眾多OPV和鈣鈦礦課題組開展了測試服務合作。

樣品要求

1.請?zhí)峁y試條件，波長，std距離，q值范圍，掠入射角度等，如在測試GO平臺測試，提供訂單號即可；

2.默認每個樣品提供一個數(shù)據(jù)處理，對應一個曝光時間，如需對同樣品進行多曝光時間數(shù)據(jù)處理，請?zhí)崆芭c負責人聯(lián)系確認，費用有所疊加；

3.數(shù)據(jù)處理提供2D圖以及1D積分圖，默認為面內外積分，如需角度積分，另收費，請?zhí)崆芭c負責人聯(lián)系；

4.數(shù)據(jù)處理請?zhí)峁﹨⒖嘉墨I圖，由于受出圖軟件限制，部分字體字號要求無法達到，2D圖橫坐標默認單位nm^-1，需要其他單位請自行PS處理；

5.2D圖出圖默認信號最清晰的標尺，如需同組樣品同標尺下對比，請?zhí)崆白⒚鹘M數(shù)。

6.對數(shù)據(jù)格式，數(shù)據(jù)處理有疑問請自行瀏覽數(shù)據(jù)說明；

7.有任何相關測試問題不明確，請聯(lián)系負責人解答。

項目案列