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項目介紹

原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）：是一種可以用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。

將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小針尖，使之與樣品表面輕輕接觸。由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，會使懸臂發(fā)生微小的偏轉(zhuǎn)。通過檢測出偏轉(zhuǎn)量并作用反饋控制其排斥力的恒定，就可以獲得微懸臂對應(yīng)于各點的位置變化，從而獲得樣品表面形貌的圖像。

成像模式：

接觸模式：針尖與樣品表面距離小，利用原子間的斥力；可獲得高解析度圖像；樣品變形，針尖受損；不適合于表面柔軟的材料；

非接觸模式：針尖距離樣品5-20nm,利用原子間的吸引力，不損傷樣品表面，可測試表面柔軟樣品；分辨率低，有誤判現(xiàn)象；

輕敲模式：探針在Z軸維持固定頻率振動，當振動到谷底時與樣品接觸，對樣品破壞小，分辨率幾乎同接觸模式相同。

樣品要求

1. 薄膜樣品，尺寸不大于2*2cm（請備注好測試面）；

2. 粉末樣品，質(zhì)量不少于5mg；

3. 液體樣品，體積不小于1mL（濃度不確定，可以加送溶劑空白樣，進行測試前稀釋）；

4. C-AFM、PFM都要求樣品導(dǎo)電；

5. 提供明確的測試要求（常規(guī)20X20μm以內(nèi)的測試區(qū)域就可以），最好能上傳參考形貌并且打印隨樣品寄出；

6. AFM測試超過1小時按單價/小時收費（針對難測的樣品，如二維材料），一般測試都在1小時/樣；

7. 如果測試區(qū)域在1*1μm以下，則需要與技術(shù)經(jīng)理提前聯(lián)系。