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項(xiàng)目介紹

掃描電化學(xué)顯微鏡（SECM）是一種基于電化學(xué)原理工作的顯微鏡技術(shù)。它可以測(cè)量微區(qū)內(nèi)物質(zhì)的氧化或還原反應(yīng)所產(chǎn)生的電化學(xué)電流。SECM技術(shù)利用一個(gè)非常小的電極（探針）在樣品附近進(jìn)行掃描，這個(gè)樣品可以是導(dǎo)體、絕緣體或半導(dǎo)體，從而獲得對(duì)應(yīng)的微區(qū)電化學(xué)和相關(guān)信息。SECM的最高分辨率可以達(dá)到幾十納米。

SECM的工作原理是在探針上施加電位，使其發(fā)生還原反應(yīng)。當(dāng)探針靠近導(dǎo)電基底時(shí)，基底的產(chǎn)物可以擴(kuò)散回探針表面，使探針電流增大。探針離樣品越近，電流就越大，這個(gè)過程被稱為正反饋。而當(dāng)探針靠近絕緣基底表面時(shí)，探針電流會(huì)減小，這是因?yàn)楸倔w溶液中的電活性物質(zhì)向探針的擴(kuò)散受到基底的阻礙。這個(gè)過程被稱為負(fù)反饋。SECM通常采用電流法進(jìn)行工作，也可以采用恒電流狀態(tài)，即恒定探針電流，檢測(cè)探針在垂直方向上的位置變化以實(shí)現(xiàn)成像過程。這項(xiàng)技術(shù)不僅能夠提供高分辨率的形貌圖像，還能揭示樣品的電化學(xué)活性，因此在材料科學(xué)、生物學(xué)和腐蝕科學(xué)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用

樣品要求

1.樣品要求：表面平/拋光，外徑32mm，厚度10-20mm，導(dǎo)線長(zhǎng)度10-20cm。

2.可提供的測(cè)試模式：SECM、LEIS、SVET。

3.需要自備所需電解液。

項(xiàng)目案列